万能式断路器电磁兼容性试验技术研究*

作者：马琳，张琦，严熙熙 日期：2014-04-08/span> 浏览：3302 查看PDF文档

马琳，张琦，严熙熙
（浙江省机电产品质量检测所，浙江杭州310027）
摘要：基于万能式断路器在低压配电系统中占有重要位置并不断向智能化发展这一背景，为保证该设备在一定的电磁环境下能安全可靠地运行，并使行业相关人员对万能式断路器电磁兼容性试验有更深入和系统的认识，以现行国家标准为依据，对万能式断路器电磁兼容性试验技术进行了系统的分析和研究。研究内容主要包括电磁骚扰和电磁敏感度两类测试，对其试验对象、试验等级、试验端口、试验方法及合格性判据等内容进行了探讨。试验结果表明，获得的大量电磁兼容试验数据能对万能式断路器可能出现的问题进行预估，从而得到了其可能的解决对策，可为万能式断路器用户、制造商和相关的电磁兼容性测试人员提供参考。
关键词：万能式断路器；电磁兼容性；电磁抗扰度；电磁干扰
中图分类号：TM561；TP24 文献标志码：A 文章编号：1001-4551（2013）12-1550-05

 

本文引用格式：
袁士丞，方建安. 基于结构改进Smith预估单神经元PSD的长时延NCS研究［J］. 机电工程，2013，30（12）：1558-1563.YUAN Shi-cheng，FANG Jian-an. NCS with long time-delay based on structure improved Smith predictor with single neuron PSD control［J］. Journalof Mechanical & Electrical Engineering，2013，30（12）：1558-1563.