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基于STM32的高精度三电极测试电路研究*
作者:苑恒,徐军明*,胡晓萍 日期:2014-04-30/span> 浏览:2837 查看PDF文档
基于STM32的高精度三电极测试电路研究*
苑恒,徐军明*,胡晓萍
(杭州电子科技大学电子信息学院,浙江杭州310018)
摘要:针对目前市场上三电极测试产品存在的体积大、价格昂贵等问题,在对三电极工作原理分析的基础上,设计了三电极系统的结构模型,并提出了一种新型的基于STM32微控制器的三电极测试电路。测试电路由恒电位仪电路和电压放大电路构成,以高精密仪器运算放大器为核心器件设计了恒电位仪电路;采用同相并联结构的差分放大电路实现了对微电压的高倍率放大,并用I2C接口的A/D芯片采样放大后的电压信号。研究结果表明,该三电机测试电路的电位误差在1 mV以内,测试电流的下限达到0.1 μA;电路可以用来生产便携式三电极测试设备。
关键词:恒电位仪;基准电压发生电路;微电流检测电路;STM32
中图分类号:TH83 文献标志码:A 文章编号:1001-4551(2014)02-0186-05
本文引用格式:
苑恒,徐军明,胡晓萍. 基于STM32的高精度三电极测试电路研究[J]. 机电工程,2014,31(2):186-190.
JYUAN Heng,XV Jun-ming,HU Xiao-ping. High precision three-electrode test circuit based on STM32[J]. Journal of Mechanical & Electrical Engi⁃neering,2014,31(2):186-190.
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