线结构光传感器测量特性的测试分析

作者：刘艺,孙衍强,石照耀,等 日期：2023-02-15/span> 浏览：1251 查看PDF文档

摘要:为了揭示线结构光传感器在各种因素影响下的测量特性,以线结构光传感器为测试对象,设计了一种测试平台,研究传感器的内部因素和外部因素对线结构光传感器测量特性的影响规律。首先,根据线结构光传感器的工作原理,分析了影响其测量特性的因素,确定了测试项目;然后,根据测试需求,构建了线结构光传感器的测试平台;最后,使用两款不同厂家的传感器进行了测试,在测试平台上针对两款传感器的内部因素(内部温度、测量区域位置、曝光时间)和外部因素(测量物体性质、环境光强)进行了测试,通过分析获得了不同因素对线结构光传感器测量特性的影响情况。研究结果表明:线结构光传感器的测量结果与内部温度变化呈正相关趋势,开机至达到稳定状态需要约1h;传感器测量区域不同位置的稳定性存在差异,X方向上中间区域稳定性优于两端;曝光时间决定了测量结果的稳定性和可靠性;线结构光传感器无法稳定测量强透光性物体;环境光强对测量结果的影响可忽略不计。

关键词:光学计量仪器;线结构光测量技术;内部温度;测量区域位置;曝光时间;测量物体性质;环境光强

中图分类号:TH741;TP212文献标识码:A文章编号:1001-4551(2022)12-1740-07


本文引用格式:

刘艺,孙衍强,石照耀,等.线结构光传感器测量特性的测试分析［J］.机电工程,2022,39(12):1740-1746.

LIU Yi, SUN Yan-qiang, SHI Zhao-yao, et al. Test and analysis of measurement characteristics of line structured light sensor［J］.Journal of Mechanical & Electrical Engineering, 2022,39(12):1740-1746.